一种硅深孔工艺的监测方法技术资料下载

技术编号:9228728

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在MEMS (Micro Electromechanical System,微电子机械系统)器件的制造工艺中,经常会需要对硅衬底进行深硅孔刻蚀,形成纵向垂直或者横向连通的硅深孔结构,而后,对硅深孔结构进行材料的填充。硅深孔的填充是一个重要的工艺步骤,在填充后需要对填充的效果进行有效的监控,尤其是对横向连通的硅深孔结构的填充。目前,最直观的方法是通过扫描电子显微镜查看硅深孔的横截面,但这种方法对晶圆具有破坏性,仅适用于采样监测,且反馈结果慢,无法用于量产时对...
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