技术编号：9233986
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于测量试样(特别是液体试样)的偏振光学性质的光学测量系统。背景技术作为偏振计形成的光学测量系统可以测量试样的不同的偏振光学性质。在最简单的情况下，测量由试样的光学活性导致的线性偏振光的振荡平面的变化，即所谓的旋光。然而也可以测量试样的其它偏振光学性质，乃至于完全确定所谓的米勒矩阵，该矩阵是用于斯托克斯向量的变换矩阵。斯托克斯向量以已知的方式描述电磁波的偏振状态。米勒矩阵将各个试样就其与电磁波的相互作用进行表征。米勒矩阵尤其描述电磁波的偏振状态的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。