技术编号：9234437
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。现有荧光分析仪器的光路光斑尺寸精度不高，光强不均匀。发明内容发明目的为了克服现有技术中存在的不足，本发明提供一种光斑尺寸精度高、光强均匀的荧光分析仪用基于激光二极管的光斑控制装置。技术方案为解决上述技术问题，本发明的荧光分析仪用基于激光二极管的光斑控制装置，包括遮挡板，所述遮挡板上方设有激光二极管，所述遮挡板下方位于所述激光二极管正下方位置设有遮光片，所述遮光片正中间位置设有孔。进一步地，所述孔采用长方形孔洞。进一步地，所述孔的尺寸设置在长不高于3.6mm...
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