技术编号:9260456
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本方法属于集成电路领域,具体涉及一种基于伯努利分布的贝叶斯模型混合预测 电路成品率的方法。 技术背景 研究显示,集成电路尺寸的不断缩小导致了制造过程中很大的不确定性,包括参 数化的波动和某些致命性的缺陷,该两类的不确定性都可能会引起严重的成品率损失。因 此,无论是在流片前验证或流片后测试的阶段,为了提高电路性能或者减少制造成本,对成 品率的精确估计都是一个非常重要的工作。 最近,现有技术提出了一系列新型的设计方法(例如娃片后调节)被用来解决芯片 波动的问...
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