技术编号：9287645
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及LED，具体的说是一种LED芯片寿命加速验证方法。背景技术 随着电子信息技术应用的日益广泛，各种电子产品对现代社会的影响日益增大， 产品结构的复杂以及使用条件的严苛使得产品发生故障及潜在失效的可能性越来越大，可 靠性已经成为电子产品最重要的质量指标。传统意义的可靠性评估主要是基于数理统计和 寿命试验形成的一套理论方法和工程技术，分析的主要对象是失效时间。然而，这种方法却 无法在现代LED可靠性研究中得以应用。由于LED技术的不断进步，可靠性的大...
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