技术编号：9324421
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 光学干涉测量方法因其独特的优势在物体的三维形貌和变形测量中占有十分重 要的地位，如电子散斑干涉、全息干涉、云纹干涉法等。在这些方法中需要解调出条纹图 中每一点的相位信息才可以实现变形测量。解调相位的方法主要分为时间相位测量法 和空间相位测量法两大类。时间相位测量法，如时间相移法（Temporal Phase-shifting Method，TPM)等等，具有位移测量精度高，结构简单等优点，但是该类方法需要的条纹图较 多，耗时较长，一般情况下只适用于静态测...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。