技术编号:9328797
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。对于高压的超结M0SFET,其终端结构通常都是通过多组相同的沟槽结构组成,如果想得到足够高的终端区域的耐压,终端结构必须占用很大的面积,如600V高压SJMOSFET,终端结构的宽度至少大于130 μ m。而MOSFET器件的终端结构占用面积增大时,势必会导致MOSFET的器件区面积减小,降低器件的集成度,会增大使用成本。发明内容本发明的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种提高耐压能力的MOSFET终端结构及方法,其结构紧凑,工作操作方便,与现有工艺相...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。