技术编号:9354945
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种系统,该系统能够通过LIBS (laser-1nduced breakdownspectroscopy,激光诱导击穿光谱)对材料表面层的成分进行分析,并且能够对该表面层的代表性粒子进行采样,从而对该表面层进行附加的定性或定量分析,或进行检查。更具体地,本发明涉及一种能够通过LIBS对材料的表面污染(surfacecontaminat1n)进行分析并且能够对该污染进行检查的系统。该系统具体用于对材料的表面化学污染进行分析和检查,但更具体地用于对...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。