技术编号:9373439
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。现有的交流信号过零检测电路种类繁多,其中利用光耦器件进行过零检测的电路得到广泛的应用。现有光耦器件检测装置是用两个光耦构成,其检测方法是利用交流信号在接近过零点时光耦截止的特性实现过零点的检测。由于光耦的截止并不是严格对应交流信号的过零点,因此存在死区、过零不精确、误差大等问题。发明内容本发明的目的在于克服现有技术中的不足,提供一种高精度交流信号过零检测装置,解决现有技术中光耦器件过零检测存在死区、过零不精确、误差大的技术问题。为解决上述技术问题,本发明所...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。