技术编号：9373492
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。现在的芯片系统运行速度越来越快，对时钟的各个方面的性能要求越来越高，所以需要对锁相环(PLL)等时钟模块进行全面的特性分析，其中最重要的包括抖动、相位噪声、稳定时间等参数，同时也需要在不同的电压、时钟系统设置、温度下进行测试分析。这样一来，测试分析的工作量会大大增加，做一套测试分析，所要完成的测试项目通常有几百条，需要花费数天时间，而且特别耗费人力资源。为此，如何利用高速示波器(采样率>20GS/S)、信号分析仪、频谱分析仪等设备，实现时钟特性的自动...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。