技术编号：9375428
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。随着集成电路技术的快速发展，片上系统的功能和复杂度越来越高，在开发过程中，不可避免的会出现各种错误，只有经过反复的调试修正才能满足设计要求。据统计，调试一般占用整个系统开发时间的20% -50%，俨然已成为集成电路开发的关键环节，因此调试工具的开发就变得尤为重要。如何有效地访问集成电路内部的信号是对片上系统进行调试的关键。通过增加可访问测试端口来实现调试的方法会使得芯片面积过大，引起信号完整性问题，甚至需要重新进行设计。这就需要在芯片面积与可访问能力之间寻...
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