技术编号:9416040
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 表面未经过任何防氧化处理的永磁材料的表面会形成一层氧化膜,常温情况下利 用研磨等技术,去除该层氧化膜后,便可测量其电阻,并计算其电阻率。且由于常温情况下, 永磁材料表面的氧化比较缓慢,因此可不必考虑氧化对测量结果产生的影响,但高温情况, 会加速永磁材料表面的氧化,并且为了使永磁材料能达到热平衡,高温试验一般都会持续 一定时间,这都会极大的影响测量结果的精度,因此为了更准确的测量定永磁材料在不同 温度下的电阻率,就需要有效的避免永磁材料在测试过程中表面的氧...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。