具有微分离子迁移率谱仪和质谱仪的离子分析装置及使用方法技术资料下载

技术编号:9430100

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专利说明本申请是国际申请号为PCT/GB2010/000873、申请日为2010年4月30日、中国国家申请号为201080019355.5、发明名称为“具有微分离子迀移率谱仪和质谱仪的离子分析装置及使用方法”的发明专利申请的分案申请本发明涉及微分离子迀移率分析以及质谱仪,尤其涉及微分迀移率光谱测定法与质谱测定法的一起使用。背景技术微分离子迀移率光谱测定法(DMS)是一种基于离子迀移率光谱测定法(MS)原理的技术。在IMS中,轴向均勾电场引导离子穿过恒压下的...
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