技术编号:9438247
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。纳米级设备和结构的作用越来越重要。但有效制造这些结构很具挑战性。例如,目前是使用聚焦离子束(“FIB”)逐个“加工”针尖,从而制造出高纵横比的原子力显微镜(“AFM”)针尖(也俗称为“AFM探针”)。该方法具有通用性,不仅用于制造AFM探针。但是,由于每个探针都是单独制造,制造过程很缓慢,而且成本高昂。此外,还可通过在低纵横比基础(可能本身是一个低纵横比的探针)的顶点处附着或生长一个碳纳米管,从而制造出高纵横比的AFM探针。但是,要使一个碳纳米管以固定的方...
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