技术编号:9439440
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本公开一般设及用于检测和补偿受诸如工艺、电压和溫度变化之类的变化因素影 响的集成电路中的晶体管失配的电路和方法。 柳〇引背景 存在影响集成电路的多种变化来源,即工艺(巧变化、电源电压(V)变化、W及工 作溫度灯)变化,通常称为PVT角(PVTcorner)。每个变化来源都影响整个集成电路或其 部分。例如,由环境溫度的改变造成的溫度变化W同样的方式影响集成电路上的所有晶体 管和互连线,而由于忍片上溫度梯度的存在(如热点的存在)造成的溫度差将引起集成电 路的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。