技术编号：9472811
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种，尤指一种能够同时撷取多个晶粒的侧面影像，以缩短检测工时，并提升分辨率与检测能力的晶粒挑拣装置及其方法。背景技术于现有的晶粒挑捡制程中，其附加视觉检测功能的必要性日益升高，视觉检测系用于检测出晶粒的五侧面是否具有表面瑕疵，而晶粒的表面瑕疵的检测方法会同时影响检测的效率，并进而影响附加此检测功能的挑捡机的产出。请配合参考第I图所示，现有的视觉检测方式，其利用一取放单元70将一晶粒71由一晶粒供应模块76移动至一检测站72。检测站72系由四面反射...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。