技术编号：9488559
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。电磁干扰大小一般利用天线进行远场测量，但是远场的测试结果只能测出产品的电磁干扰大小是否超过限值，并不能测出电磁辐射是来自于壳体的缝隙，还是来自连接的电缆，或USB、LAN之类的通信接口，在这种情况下，可以通过近场测量的方法来确定电磁辐射的真正来源。通常，芯片、器件的管脚、PCB上的布线、电源线及信号线缆等都会产生磁场辐射，磁场探头能提供一个与该磁场辐射的强度成正比的信号，通过磁场探头量测并结合频谱分析仪就可以测量磁场辐射的大小，从而知道产品具体哪个位置有磁...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。