技术编号：9508750
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及复眼系统领域，尤其涉及一种利用复眼系统成像特性突破光电探测器采样分辨率的限制得到高空间采样密度图像的方法。背景技术光电探测器是光学成像系统的一个重要组成部分，在光学系统参数一定的情况下，其靶面大小决定了成像视场，其像元尺寸的大小是影响成像系统分辨率的一个重要因素，而且光电探测器对目标物的采样满足奈奎斯特采样定理。在传统视觉系统中，整个成像系统的空间分辨率受制于光电探测器的采样分辨率(即像元大小)和光学系统分辨率。在现有光学设计的水平下，光学系统的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。