技术编号：9510070
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明的一个方面涉及自适应光学系统的调整方法、自适应光学系统和存储自适 应光学系统用程序的记录介质。背景技术 在非专利文献1和2中记载有通过相位测量法来调整自适应光学系统的方法。相 位测量法是一种将已知的相位分布显示在空间光调制器上，然后利用波前传感器测量该相 位分布，通过将其测量结果与已知的相位分布进行对照，使调制面上的坐标与检测面上的 坐标彼此对应的方法。 现有技术文献 非专利文献 非专利文献 I Abdul Awwal, et al.，"Chara...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。