技术编号：9522882
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 天线测量是天线研制和使用过程中最为重要的一个方面，特别是阵列天线，由于 其结构复杂，测试成本较高，一直W来都是阵列天线研制和使用过程中的热点和难点问题。 目前国内外对阵列天线的故障诊断方法，可W分为直接性能参数测试与故障推理两大类。 直接性能测试是在微波暗室内通过探头对阵面单元的福射特性进行测试，由此可 直接判断阵面单元故障，该方法准确性较高，技术较为成熟，但受微波暗室的限制，阵面规 模不能太大。 故障推理是在外场对阵列天线的福射特性进行测试，获取天线增...
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