技术编号：9544750
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及光学干涉测量或数字全息测量领域，具体涉及一种基于空间载频相移 技术的单次曝光双波长干涉测量的方法和系统。背景技术 光学干涉测量技术利用光的干涉原理，将待测物体的相位信息以干涉条纹的形式 记录下来，通过对干涉条纹的处理可得到待测物体的相位。通常使用单波长的测量技术会 遇到待测物体起伏超过测量波长而产生的相位模糊的问题，使用双波长的测量技术可以产 生一个比原来任一波长大得多的合成波长（等效波长），从而避免了解相位包裹的问题，可 实现对变化梯度较大的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。