技术编号:9544764
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及光学测量领域,尤其涉及一种基于波数分辨的低相干干涉绝对距离测 量系统。背景技术 现有的与此技术相接近的文献有以下两个 D. P. Hand, T. A. Caro lan, J. S. Barton and J. D. C. Jones. ^Profile measurement of optically rough surfaces by fiber-optic interferometry',,Opt. Lett.,Vol. 18, No...
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