纳米纤维并行拉伸测试系统和方法技术资料下载

技术编号:9545190

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本发明公开了一种,涉及微纳米技术,微纳米 操作领域。背景技术 半导体纳米纤维材料具有独特的物理化学性能,在电子器件、光器件等方面具有 潜在的应用优势。对纳米纤维特性进行研究,特别是杨氏模量的测定,对于块相材料的宏观 机械性能具有一定的指导意义和参考价值,特别是新合成的块状力学性能未知的材料。探 索纳米纤维特性的研究方法,对于促进材料表征方法和实验手段地不断发展具有重要的推 动作用。 目前,对纳米纤维的杨氏模量进行测定的方法有很多,主要是逐一对多根纳米纤 ...
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