技术编号：9545397
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。市场上现有的直径缺陷测试仪，通常采用击穿放电原理对光电线缆表面缺陷进行检测。对于采用全介质结构且表面结构异型的光缆(如气吹微缆、接入网用光缆等)，普通的测试仪无法探测到光缆表面存在的缺陷。以气吹微型光缆产品为例，由于产品通常为全介质结构，外径尺寸及护层厚度很小，且产品表面成不规则形状(如锯齿状)，护套挤出工艺控制难度较大，稍不注意即会出现护套表面缺陷情况，如脱料、鼓包等，很容易造成质量事故。由于没有专门的在线识别设备，若出现上述问题只能以人工进行复绕检查，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。