一种提高芯片可靠性的封装结构及其圆片级制作方法技术资料下载

技术编号:9549474

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及,属于半导体封装。背景技术圆片级芯片尺寸封装是在整个晶圆上进行再布线和焊锡球凸点制备,最后再切割为单颗待封装芯片的一种制作方式。该种封装的最终封装尺寸与待封装芯片尺寸相当,可以实现封装的小型化和轻量化,在便携式设备中有着广泛的应用。随着半导体硅工艺的发展,待封装芯片的关键尺寸越来越小,为了降低成本,在进行芯片制作时倾向于选择较先进的集成度更高的芯片制作工艺,这就使得待封装芯片的尺寸越来越小,待封装芯片表面的I/O密度也越来越高。为了确保待封装芯片...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。

详细技术文档下载地址↓↓

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
该分类下的技术专家--如需求助专家,请联系客服
  • 贺老师:氮化物陶瓷、光功能晶体材料及燃烧合成制备科学及工程应用
  • 杨老师:工程电磁场与磁技术,无线电能传输技术
  • 许老师:1.气动光学成像用于精确制导 2.人工智能方法用于数据处理、预测 3.故障诊断和健康管理
  • 王老师:智能控制理论及应用;机器人控制技术
  • 李老师:1.自旋电子学 2.铁磁共振、电磁场理论
  • 宁老师:1.固体物理 2.半导体照明光源光学设计实践 3.半导体器件封装实践
  • 杨老师:1.大型电力变压器内绝缘老化机理及寿命预测 2.局部放电在线监测及模式识别 3.电力设备在线监测及故障诊断 4.绝缘材料的改性技术及新型绝缘材料的研究
  • 王老师:1.无线电能传输技术 2.大功率电力电子变换及其控制技术