技术编号:9563270
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 发射率是一个表征材料辐射特性的重要参数,在红外探测、遥感和辐射测温等领 域都有着重要的应用。但发射率容易受温度、波长、表面粗糙度以及表面氧化等因素的影 响。例如,工业上用辐射测温仪测量金属材料的表面温度时,金属的氧化会导致发射率发生 很大变化,影响辐射测温的精度。相比法向光谱发射率,材料的极化方向发射率具有一些特 殊性质,可以应用于表面温度的实时测量。然而目前测量极化方向发射率的装置并不多,性 能和精度也有待提高。针对现有极化发射率测量装置的局限性,设计...
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