技术编号:9564509
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一般需要使用到只读存储器(Read Only Memory, ROM)的芯片中通常会设置有一内建自我测试(Built-1n Self-Test, BIST)电路,此内建自我测试电路通常可以采用单一输入特征缓存器(Single Input Signature Register, SISR)算法或是多输入特征缓存器(Multiple Input Signature Register,MISR)算法,内建自我测试电路的用途是在产品测试或是其他有需要判断只读存储器...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。