技术编号：9577995
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 随着半导体制作技术的提高和对探测范围、刷新频率需求的提升，单点红外焦平 面探测器已不能满足应用需求。红外焦平面阵列探测器在军事和民用领域都获得广泛应 用。但受制作器件的半导体材料和工艺等条件的限制，红外焦平面探测器存在较大的非均 匀性，其来源主要有以下几个方面 (1)、探测器中各阵列元的响应特性的非一致性。当阵列具有较高的稳定性时，这种非 均匀性在像平面上的模式是固定的。 (2)、l/f噪声。(3)、电信号传输与放大通路的不一致。 (4)、红外光学系统的...
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