控制多晶硅刻蚀侧壁角度的方法技术资料下载

技术编号:9580602

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目前,微电子工艺技术发展的非常快,而其中一个主要的特征尺寸就是沟道长度。在亚微米工艺的集成电路中,往往使用掺杂的多晶硅作为栅极控制部分。这是由于多晶石圭电极与半导体之间的功函数差较小,有利于降低MOSFET (Metal-Oxide-SemiconductorField-Effect Transistor,金属氧化物半导体场效应管)的阈值电压。同时,采用掺杂的多晶硅栅来代替常用的铝栅,能够承受比较高的热处理温度,并且还能够作为离子注入时的掩模版,以实现MO...
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