技术编号：9595728
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 随着工业界对电子器件性能需求的提升，其元器件的尺寸不断减小，微米、纳米电 子器件已经广泛应用于各种大规模集成电路。这种小尺寸的电子器件电阻阻抗通常比较 大，使得焦耳热效应不可忽略。电子器件通道内的局域阻抗非常小的变化，就有可能在电子 器件上产生局部高温。局部高温区域如果不被发现和处理，可能会导致器件性能退化或损 伤。为了避免对器件的灾难性破坏，准确获得局部高温区域的位置至关重要。但是，局域高 温位置不仅依赖于器件设计，还与集成电路的质量有关，往往很难先验...
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