技术编号：9631470
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在PMC Raid卡选型测试和问题处理、产线生产过程中，经常要测试Raid卡热备盘功能，但是每次都要安装0S测试，比较繁琐。如何能够方便测试PMC Raid卡热备盘功能，需要实现一种无0S下测试PMC Raid卡热备盘是目前急需解决的技术问题。发明内容本发明的技术任务是提供一种实现PMC RAID卡热备盘功能的方法，来解决如何能够方便测试PMC Raid卡热备盘功能，需要实现一种无0S下测试PMC Raid卡热备盘的问题。本发明解决其技术问题所采用的技术方...
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