一种基于仲裁器的绑定前硅通孔测试结构的制作方法技术资料下载

技术编号:9647707

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基于娃通孔(Through-Silicon Via,TSV)的三维集成电路极大地推动了集成电路行业的发展。与传统的二维集成电路不同,三维集成电路通过TSV把多个晶片垂直堆叠,使得它拥有功耗低、带宽高、面积小、性能好、支持异构集成等优点。据估计,基于TSV垂直互连的三维集成电路功耗降低50%,带宽提高8倍,堆叠存储器缩小35%。当前TSV的制造工艺还不成熟,TSV可能存在微孔和针孔缺陷,这些缺陷导致TSV产生电阻开路故障和泄漏故障,严重降低了三维集成电路的良...
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