高精度平面度在线测量装置及测量方法技术资料下载

技术编号:9685282

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光刻投影物镜是制造大规模集成电路中的关键设备,近些年来,随着科学技术的不断进步,集成电路的规模不断提高,对光刻投影物镜分辨率的要求也不断提高。在光刻投影物镜的设计与系统集成过程中,对物镜镜框的机械精度有着极高的要求,尤其是镜框的基准面平面度,它可以直接影响所支撑镜片的倾斜程度,从而影响物镜最终成像质量。现有技术中,镜框平面度的测量方法主要有三种一种是将镜框加工完成之后,从机床上取下来,放在诸如三坐标测量机(CMM)、圆度仪等设备上进行检测,如果没有达到工件...
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