技术编号：9686532
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。对于面板在成盒之后的检查，一直是TFT-LCD行业的重要测试工序，不仅承担着对前段工艺工序的不良的及时反馈，也起到了淘汰不良产品，避免后工序资材浪费的重任。目前的检查方式，主要分为全接触式检测和短路棒式。全接触式检测方式更接近模组段点灯方式，是目前比较流行的检测方式。目前的点灯治具设计，驱动信号从数据信号接入点输入，Vcom信号也从数据信号接入点输入，时钟信号，TFT开关信号也从数据信号接入点输入，数据信号接入点集几大功能在一起，结构复杂，所以很容易损坏，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。