技术编号:9690640
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。符合测量是一种多路并发事件检测的测量技术,它广泛的应用于核物理、宇宙射线以及量子光学等领域。在符合测量领域,特别在量子光学中,符合测量容易受到本底噪声、暗计数以及后脉冲等的影响,人们对符合测量精度提出了更高的要求。目前基于FPGA(Field—Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)实现符合计数器的设计方法大部分采用的是外部芯片的可编程延迟线和FPGA内部采样来实现的,多路信号通过高速或门甄别出起始信号,然后通过可编程延迟线控制符...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。