一种测量微位移的装置的制造方法技术资料下载

技术编号:9706170

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随着微电子技术、宇航、生物工程等学科的发展,对精密机械和仪器的制作精度要求越来越高,其中物体的微位移是一项重要的检测指标。现用测量微位移的装置常用的是一种是利用光杠杆拉伸法,但这种装置具有以下缺陷光学调节比较复杂,器材较庞大,读数装置与测量装置间隔为I至2米,实验时需来回走动,操作困难;采用普通刻度尺读数,误差较大,测量结果不够精确等。迈克尔逊干涉仪是光学干涉仪较常见的一种,其原理是一束入射激光被分为两束,其中一束经一定相位延迟后与另一束发生干涉现象,形成...
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