技术编号：9706764
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在触摸屏的制造中，利用经由透明配线而连接于透明电极的金属电极来进行导通检查。在利用导通检查而确认了导通不良的情况下，为了特定不良部位，作业人员使用激光显微镜或光学显微镜，沿着与被确认导通不良的金属电极相连的配线，来观察该配线及透明电极。另外，专利文献1中揭示了如下方法通过设置配线图案中以规定间距排列的多个电极端子部中的如下的电极端子部，而容易特定配线位置，所述电极端子部具有成为特定配线图案的配线位置时的指标的特殊形状或长度。而且，专利文献2中，提出有获取形...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。