技术编号:9725653
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。随着大规模集成电路的出现,印制电路板制造工艺向小、微、薄发展,传统的信息通信技术(ICT1nformat1n Communicat1n Technology)测试已经没有办法满足这类产品的测试要求,由于芯片的引脚多,元器件体积小,板的密度特别大,根本没有办法进行下探针测试,因此联合测试行为组织(JTAG,Joint Test Act1n Group)边界扫描系统应运而生。采用边界扫描系统内嵌于FPGA电路设计中的方法,可以解决FPGA芯片问题定位测试的难题...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。