技术编号：9726222
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。线扫描光学检测设备一般包含明场检测系统、暗场检测系统或背光检测系统，分别用于不同缺陷的检查。各系统使用的光源不同，对待测物进行检测时一般只能使用一种检测系统，以避免其他光源系统的成像干扰，造成相关缺陷不能有效检出。例如，有些缺陷在明场照明系统时可以显现，但若同时打开背光照明系统就不能显现。如果要全面检出物体各种表面缺陷，一般常采用多次不同的照明系统分开进行检测。现有的线扫描光学检测设备在进行待测物表面缺陷检查时耗时较久，设计空间需求更大，成本也更高。发明内...
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