技术编号:9748467
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。微波器件的相贯结构形式多样,相贯的对象有方腔与圆孔、圆孔与圆孔,又有异形孔与腔。为保证微波性能,这类结构往往尺寸较小,尺寸精度和位置精度要求高。这些相贯结构的位置精度往往直接影响产品的磁、电场发生准确度、驻波比、相位偏差等关键性能指标,因此对相贯结构相对位置的精确测量非常重要。由于尺寸较小检测空间不足,检测时难以找到一个同时适于各相贯要素的有效基准,现有的测量方法采用的是抽样破坏性检测,即将被测抽样零件剖切开后进行检测,抽样破坏性检测法存在很多问题如检测效...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。