技术编号：9756729
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。专利说明散射光参考像素 本发明涉及用于确定强度调制的电磁辐射信号的强度调制的强度和/或相位的装 置，包括检测器，其中所述检测器具有像素矩阵，以及用于将强度调制的辐射信号成像到 该检测器上的成像光学装置，其中在操作中所述成像光学装置用成像的强度调制辐射信号 照射该检测器的成像部分且其中该像素矩阵在该检测器的呈现部分内至少逐部分地排列 且具有被适配成在操作中记录强度调制的辐射信号的测量值的多个像素。 本发明还涉及减少散射光对强度调制的电磁辐射信号的强度调制的强...
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