技术编号：9765176
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。集成电路测试是集成电路生产中的重要一环，测试准确性和测试效率直接影响产品的质量和成本；量产测试前进行产品测试参数调试耗时耗力，调试过程中示波器是必备工具，需要根据示波器的读数调整测试参数相关值。工程师对集成电路测试机的测试电路和测试程序进行调试时，希望具有比示波器更简单的工具，能够观察参数实时结果，提高调试效率。中华人民共和国国家知识产权局于2012年05月23日公开了名称为“一种用波形显示测量结果的数字万用表”的专利文献(公告号CN102466745A)...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。