技术编号：9786078
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种用于测量纳米器件低能质子单粒子翻转试验敏感性的方法，属于 空间用元器件抗辐射。背景技术 航天器运行在空间辐射环境，空间单个高能粒子与航天器电子系统用元器件发生 相互作用，可能导致元器件产生单粒子效应，是诱发航天器故障的重要因素之一。 随着微电子技术发展，器件特征尺寸发展至纳米级，器件单粒子效应更加敏感。质 子直接电离的LET值最高可达0.45MeV- Cm2/mg，理论上，在重离子加速器辐照试验中，对LET 小于lMeV-cm2/mg的粒子...
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