技术编号：9791646
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在集成电路的设计和生产过程中，为了保证产品的正确性，需要对集成电路进行多种测试。对于包含有存储器的集成电路，通常需要对其进行至少以下三种测试，即逻辑测试、存储器内建测试以及存储器接口测试。图1示意性示出包含存储器的集成电路以及有关的几种测试。在图1中，集成电路包括存储器，该存储器典型地由随机存取存储器RAM阵列构成。在该存储器之外，集成电路还包括由多种电路设计元件构成的外部逻辑，例如触发器，寄存器，复用选择器(MUX)，以及由椭圆形示出的组合逻辑群，该组合...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。