技术编号:9862625
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。目前,高度卡尺及测高尺在工程(平台)测量中只能用来测量制件表面高度位置和划线的功能,即只能在主尺上下(高度)单一方向进行读数测量(假设其为空间Y轴尺寸),那么在其它的X轴、Z轴均无法进行读数测量,如果要对一些小型数模制件进行坐标尺寸检测/测量,高度卡尺及测高尺是无法进行三维测量的,只能采用三坐标测量仪、关节臂等较大型精密仪器进行测量/检测,测量过程相对比较繁杂。发明内容为了解决上述技术问题,本发明旨在提供。本发明是通过如下技术方案予以实现的—种制件坐标尺寸...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。