技术编号：9862677
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明设及一种四像机组平面阵列特征点Ξ维测量系统及测量方法，属于光学电 子测量技术产品和方法的;具体说属于采用数字相机组对被测物的Ξ维特征点坐 标通过图像处理的方式进行位置和尺寸测量并计算出被视物体特征点Ξ维位置坐标点云 数据的方法的。背景技术 目前快速准确的计算出被视物体特征点的Ξ维位置坐标点云数据进而实现被视 物体全部外观尺寸的Ξ维立体快速精确测量的Ξ维测量采用的方式和存在的问题如下所 述[000引一、单点视觉测量法 我们可W将各类非接触长度测量传感...
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