技术编号：9863274
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 1C卡在我们的生活中使用越来越普遍，使用数量越来越大，但是在使用过程中，经 常出现1C卡使用一段时间后不能继续使用的现象。对损坏后返回的1C卡进行分析，除去 人为损坏的1C卡，大部分是芯片虚接、虚焊或线圈变形造成线与线之间虚接，造成1C卡使 用一段时间后出现不能继续使用的现象。 目前，现有技术中的一种1C卡扭曲测试方法为；将1C卡放在两个卡槽中，通过两 个卡槽之间距离变化强迫1C卡弯曲变形，弯曲测试设备卡槽之间距离变化的大小确定1C 卡弯曲量的大小，卡弯...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。