技术编号:9865348
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。目前,在固态存储领域,固态存储设备上闪存颗粒的好坏决定着固态存储设备的稳定性。固态存储设备采用的主控制芯片不同,对于闪存颗粒的品质要求不同。由于闪存颗粒的特性,具有擦写次数限制的寿命问题,并且坏块的判别采用ECC校验和纠错的方式,现有的闪存颗粒检测一般采用软件测试的方法,无法针对闪存颗粒中每一个块进行全方位的检测,因而不能评估出闪存颗粒中每一个块的健康程度等,在使用时会存在一些数据安全隐患;另外也无法适用于所有的主控制芯片,不能满足不同的固态存储设备使用要...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。