技术编号:9872303
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及向试样照射激发X射线,测量与之对应地从试样释放的荧光X射线并进行试样成分定量的荧光X射线分析方法及装置,特别涉及使用基本参数法(以下,称为“FP法”。)进行试样成分定量的荧光X射线分析方法及装置。背景技术为了确定树脂产品、食品等中含有的金属元素等微量成分的种类、或定量这些微量成分等,需要使用荧光X射线分析。根据检测出的荧光X射线的能量进行微量成分的确定,另外根据荧光X射线的强度进行这些微量成分的定量。进行试样成分定量的方法之一为FP法(例如专利文...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。