技术编号：9885586
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 在光力学实验中会出现静应力（例如残余应力）和动应力（例如超声应力）叠加的 情况，特别是在使用动态光弹系统研究声场散射问题时，需要对透明样品进行加工，做出特 定的缺陷。在加工过程中，会在边缘产生残余应力，形成具有一定分布的残余应力场，从而 向系统拍摄的图像中引入较强的噪声。在带有残余应力的光弹图像中，难以分辨超声信号， 需要进行分离。 从目前公开发表的专利和文献来看，目前尚无分离缺陷附近的残余应力的方法， 在一定程度上阻碍了超声波在缺陷附近的传播和散射问题...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。